Ali obstaja kaksna tehnicna omejitev, ki preprecuje, da bi naredili povecevalno steklo (lupo) s tako goriscno razdaljo (ki ocitno vpliva na faktor povezace), da bi se z njo videlo (opticno zaznalo s prostim ocesom + to pripravo) zelo majhne stvari - recimo manjse od atoma. Dejstvo, da je take stvari tezko najti in da bi bila taka lupa verjetno neprakticna, za to vprasanje zanemarimo, zanima me izkljucno ali bi tako stvar bilo mogoce narediti in ce ne, zakaj ne.
Hvala za odgovor ze vnaprej!
Povecevalno steklo
Poglavitna omejitev je valovna dolžina svetlobe.
Pri (klasični) optični mikroskopiji je ločljivost mikroskopa \(d\) (najmanjša razdalja med dvema točkama, ki jo pod mikroskopom ločimo) podana z Abbejevim obrazcem:
\(d = \frac {\lambda}{n \sin \alpha}\),
kjer je:
\(\lambda\) valovna dolžina svetlobe (350 –750 nm)
\(n\) lomni količnik sredstva (snovi) med objektivom in vzorcem; zaželjeno je, da je čim višji (za zrak: n = 1, za emulzije: n=1,7)
\(\alpha\) polovica zornega kota; v večini primerov: \(2\alpha = 144° \Rightarrow \alpha = 72°\)
Iz navedenega sledi, da lahko s svetlobnimi mikroskopi dosežemo povečave do največ 1500 x. Večje povečave nudi le elektronska mikroskopija (do 300 000 x).
Če še omenim vrste elektronske mikroskopije:
Odbojna: Primerna za ugotavljanje sestave in oblike materiala.
Presevna: Na materiale se nanaša (naparjuje) okside (najpogosteje \(Al_2O_3\)). Tako se ugotavlja mikrogeometrija površin.
Pri (klasični) optični mikroskopiji je ločljivost mikroskopa \(d\) (najmanjša razdalja med dvema točkama, ki jo pod mikroskopom ločimo) podana z Abbejevim obrazcem:
\(d = \frac {\lambda}{n \sin \alpha}\),
kjer je:
\(\lambda\) valovna dolžina svetlobe (350 –750 nm)
\(n\) lomni količnik sredstva (snovi) med objektivom in vzorcem; zaželjeno je, da je čim višji (za zrak: n = 1, za emulzije: n=1,7)
\(\alpha\) polovica zornega kota; v večini primerov: \(2\alpha = 144° \Rightarrow \alpha = 72°\)
Iz navedenega sledi, da lahko s svetlobnimi mikroskopi dosežemo povečave do največ 1500 x. Večje povečave nudi le elektronska mikroskopija (do 300 000 x).
Če še omenim vrste elektronske mikroskopije:
Odbojna: Primerna za ugotavljanje sestave in oblike materiala.
Presevna: Na materiale se nanaša (naparjuje) okside (najpogosteje \(Al_2O_3\)). Tako se ugotavlja mikrogeometrija površin.